多晶X射线衍射仪
国别、厂家：荷兰, PHILIPS(飞利浦公司)
仪器型号：X’ Pert MPD
仪器所在单位：北京化工研究院分析研究室
仪器安置地点：北京化工研究院实验楼101室
联系人：王焕茹、曾小强
电  话：010－59202720   010－59202700  
E-mail：wanghuanru@brici.ac.cn
        zengxiaoqiang@brici.ac.cn
传  真：010－64294987
邮  编：100013

主要性能技术指标：电源输出：电压15～60KV，电流5～60mA
X射线管：Cu靶，功率2.2KW
测角仪：PW3020型
测角范围：0～167
测角重复精度：±0.0001
闪烁计数器：线性计数范围500,000cps
主要附件：薄膜附件
主要功能和应用：确定晶体物质的晶相结构，并进行定量分析；
结晶学测定；
晶粒度测定；
薄膜样品：玻璃、单晶硅、金属、聚合物等物质表面
薄膜相分析；
可变深度测量－可以测量梯度、双层和三层；
薄膜厚度测量。